表面分析—显微镜射线图谱

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X射线光电子能谱分析,以一定能量的X射线辐照气体分子或固体表面,发射出的光电子的动能与该电子原来所在的能级有关,记录并分析这些光电子能量可得到元素种类、化学状态和电荷分布等方面的信息。这种非破坏性分析方法,不仅可以分析导体、半导体,还可分析绝缘体。除氢以外所有元素都能检测。虽然检测灵敏度不高,仅达千分之一左右,但绝对灵敏度可达2×10(单层。

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